1.磁性测厚法厚度测量仪：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法：适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。
4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。
5.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在10万rmb以上），适用于一些特殊场合。
国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。
激光：
板材（钢坯）激光厚度检测系统具有无辐射、成本低、便于维护等特点，激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的，完全满足热轧板坯厚度检测的需求。
激光测厚仪是基于三角测距原理，使用集成式的三角测距传感器测量出从安装支架到物体表面的距离，进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。
激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化，进而可计算出被测物体的实际移动距离。
激光测厚仪：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
x射线测厚仪：利用x射线穿透被测材料时，x射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以plc和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.
纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
镀层厚度测量仪的具体价格是多少？怎么正确选择？
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镀层测厚仪价格-厂家以及仪器的简单介绍
来源：林上科技 发布时间：2020/08/31 14:00 浏览：1267
市面上测量涂层测厚仪的仪器有很多但是测量镀层的仪器相对于测量涂层厚度的仪器比较少而且镀层测厚仪的价格也是比较高的，近期镀层测厚仪厂家林上科技就生产了一款专门用于镀层厚度检测仪器ls225 f500镀层测厚仪。这款镀层测厚仪价格也是非常优惠。以下我们就对林上厂家的仪器做一个简单介绍。
一、镀层及其特点介绍
首先我们先来了解一下镀层都有什么特点。常见的镀层有镀锌、镀镉、镀铬、镀铜、镀镍、镀锡、镀铅等。镀层一般有抗氧化、防腐、增加材料的耐磨性、装饰、增加材料硬度等功能。镀层与其他的涂层相比是比较薄的，所以一般对镀层测厚仪的测量精度的要求是比较高的。市面上涂层测厚仪有进口的也有国产的，国产的仪器比较少、大部分是进口的。进口的涂层测厚仪的价格是比较高的。
二、镀层测厚仪厂家及其仪器介绍

仪器厂家林上的ls225镀层测厚仪是一款专业用于检测钢铁等磁性金属基体上的镀层的仪器。这款涂层测厚仪的重复性为≤±（0.8%读数 0.1μm），测量精度为±（2%读数 0.3μm）所以重复性比较好测量精度比较高，10μm以内的超薄镀层均可以测量。仪器主要有两部分构成主机和测头，测头比较精致最小的测量区域可以小到7毫米。所以这款涂层测厚仪不仅可以用测量大的涂层材料，对于比较小的异型材料例如螺栓、螺丝、图钉等材料均可以测量。为了确保人为引起测量精度的误差，公司还提供可供选择的测量夹具。
三、镀层测厚仪价格以及产品售后
镀层测厚仪ls225可用于测量钢铁等磁性金属基体上的镀层厚度的测量，对于塑料件是不能测量的这款涂层测厚仪价格为4135元，如果配上夹具的价格为5760元。这款仪器不仅产品质量好而且还具备良好的4436x12威尼斯的售后服务。作为优质涂层测厚仪厂家林上科技为我们提供以下服务：
1.涂层测厚仪质保期为一年，自购买之日起30天之内无理由退换货。仪器如果出现故障可将整套涂层测厚仪寄至公司维修。
2.为用户提供终身维修服务，可以长期提供零配件。
3.为用户免费提供仪器的校验服务，长期提供4436x12威尼斯的技术支持。
建议根据贵司常用的底材选择。常见的涂层测厚仪有以下几种：
一、接触式膜厚仪
目前大多数传统测厚仪属于接触式或者破坏式有损测量，并且且测试速度慢和测量繁琐，多适合于抽样检测。只有等待涂层干燥后才能测量涂层厚度，测量时探头需要挤压涂层表面，所以容易造成读数产生偏差。
例如，千分尺的精度是±1微米，如果涂层厚度为12微米，测量偏差则是±8%，加上人为误差影响，大大超出了生产厂家的允许偏差范围。可见，接触式千分尺不能作为有效可靠的测厚方法。
其他接触式测厚仪还有：测量金属底材涂层厚度――采用接触式电磁感应或涡流法膜厚仪；测量非金属底材涂层厚度――采用din en iso 2808标准提及到的楔形切割法；din 50950标准提及到的横切法或是在特定情况下使用iso 2808标准的接触式超声波测量设备。
但随着人们对产品质量和外观要求越来越严格，上述测量方法显然已经不能满足生产厂家的实际需求，并存在不少局限性，故不适合应用在铝型材生产。具体缺点如下：
1. 需等待膜层干燥而使工序滞后，无法在喷涂/涂布后马上得知干膜厚度；
2. 受底材的种类限制，很多材料不适用；
3. 测试方法对材料有损伤，测试成本高；
4. 无法测试曲面、弯角、小零件等复杂形状；
5. 不能在生产线上直接实时测试；
6. 不能及时发现生产环节及喷涂设备出现隐患，如喷枪堵塞、文丘里管磨损等；
二、非接触无损涂层厚度的测试方法
1） 瑞士ato涂魔师非接触无损光热法
涂魔师非接触式膜厚分析仪利用涂层与底材之间的热性能差异来实现非接触无损测量涂层厚度，首先用计算机控制闪光灯对未固化的漆膜进行短暂脉冲加热。高速红外传感器记录下涂层表面随时间变化的温度，表面温度根据涂层厚度和热性能以特征动态进行衰减。利用专门开发的算法评估表面的动态温度分布情况，最后可以定量确定涂层厚度。
测量原理图解见下图，安全、简单、快速且精确测量多层涂料厚度，实现在喷涂工艺中进行非接触式无损测量。
2） β辐射的反向散射
基于β辐射反向散射法（din en iso 3543），使用同位素源产生的高能电子照射待测涂层。由于多次散射过程（后向散射），一些入射的电子在入射侧离开该涂层。反向散射率，即放置在后半空间中的辐射检测器的脉冲率，可用作涂层厚度的度量参数。
3） x射线荧光法
在x射线荧光法（标准din en iso 3497）中，通过x射线照射来激发涂层以发射荧光辐射。在该方法中，光子的数量用作涂层厚度的度量参数。它主要用于测试电子，半导体和珠宝行业的金属涂层。
4） 光干涉
其余使用光学干涉原理（椭圆光度法和反射计）。用白光或红外光横向（椭圆光度法）或垂直（反射光度法）照射待测涂层。根据折射率，部分入射辐射再次被反射。 从表面和边界表面反射的光由于不同的传播时间而导致干涉图案，这可用作评估涂层厚度。 光学干涉方法只能用于光学透明涂层，主要用于研究纳米范围内的薄层。
比较上述几种非接触式无损测量方法，除了ato涂魔师非接触膜厚分析仪，其他的无损测量方法都需要激发辐射来进行测厚，对人体存在潜在危险性和伤害性，测量时需要工作人员实行相应的保护措施，如在隔离室中采用x射线荧光法。因此，ato涂魔师非接触膜厚分析仪对人体无危害性的特点应作为优先选择测量方案。